東51-28

出展展示会: エレクトロテストジャパン

 
 

ひとことPR:

 
XJTAGのバウンダリスキャン・テストプログラム開発は簡単で、設計から量産検査にまで再利用

 
連絡先※下記情報は来場ユーザーから出展社への事前アポイント申請用に公開しています。
それ以外の目的(セールス等)で無断に使用・転載する事を固く禁じます。
〒 591 8025
住所: 大阪府堺市北区長曽根町1928-1

部署: 電子機器事業部

担当者氏名: 浅野 義雄

TEL: 072-252-2128 / FAX: 072-252-2120

出展製品/技術 (メーカー名)

特長・サービス内容

 XJDeveloper
グラフィカルに JTAG ベースのテストシステムを開発できる
 XJAnalyser
JTAGチェインを視覚的にデバッグ・解析できるGUIツール
 XJRunner
JTAG実装テスト、機能テストの実行・解析ツール
 XJIO
オープンコネクタへの接続、追加ADC、DACをサポート

カテゴリー

実装基板外観検査装置
はんだ外観検査装置
インサーキットテスタ
ファンクションテスタ
バウンダリスキャンテスト/JTAG
展示の見どころ
XJTAGのテストプログラムは簡単な登録で作成できるため、基板設計時に実装テストと機能テストを作成し、カバレッジを算出してテストが容易になるように設計に反映する。 そして基板が上がれば、作成済みのテストを用いて直ちにデバッグ・テストが開始できるようになります。また、設計時に作成されたテストは、量産試験、メンテナンスへと再利用できるようになります。
 
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